• 意味
  • 例文
  • 慣用句
  • 画像

走査型プローブ顕微鏡の一。鋭くとがった探針(プローブ)を試料表面に近づけたり接触させたりして、それらの原子間にはたらく力を利用し、原子レベルで試料表面の立体構造を観察する顕微鏡。走査型トンネル顕微鏡と異なり、絶縁性の試料でも観察できる。1985年、走査型トンネル顕微鏡を発明したドイツのG=ビーニッヒにより開発された。AFM(atomic force microscope)。