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《highly accelerated limit test》電子機器などの耐久性についての試験方法の一。加熱・冷却・振動・衝撃など、機器が壊れるまで強い負荷を与え続け、弱点を明らかにすることを目的とする。
出典:デジタル大辞泉(小学館)
出典:教えて!goo
BIOSのHALT ONって何ですか?
BIOS設定の中でHALT ONという部分があるんですが、デフォルトではALL,BUT KEYBORDとなっています。このままでいいんでしょうか?それとACPI APIC supportってと...
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