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1 LSIやRAMなど半導体素子のメモリー内の電荷が変化し、動作不良が生じること。多く、宇宙線などの放射線によって起こる。→ハードエラー
2 ⇒エス‐イー‐ユー(SEU)
出典:デジタル大辞泉(小学館)
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